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低溫試驗箱的概述

時間:2013年08月15日瀏覽:145次收藏分享:

  低溫試驗箱適用于非散熱和散熱兩類試驗樣品??己撕痛_定電工、電子產品在低溫環(huán)境條件下貯存和使用的適應性。
低溫試驗方法分為以下三類
非散熱試驗樣品低溫試驗:--試驗Aa:溫度突變
                        --試驗Ab:溫度漸變
散熱試驗樣品低溫試驗:  --試驗Ad:溫度漸變


低溫試驗方法通常用于條件試驗期間能達到溫度穩(wěn)定的試驗樣品。試驗持續(xù)時間是從試驗樣品溫度達到穩(wěn)定時開始計算的。在特殊情況下,如果條件試驗期間試驗樣品達不到溫度穩(wěn)定,則試驗持續(xù)時間從試驗箱達到規(guī)定試驗溫度時開始計算。
    相關規(guī)范應規(guī)定:
a)試驗箱內溫度變化速率;
b)試驗樣品放入試驗箱的時間;
c)試驗樣品在試驗條件下暴露試驗開始的時間;
d)試驗樣品通電或加負載的時間。低溫試驗箱的概述   林頻股份全球免費服務熱線:4000-662-888
在這些條件下,相關規(guī)范的制定者可根據GB/T 2424.1-1989導則選定以上4個參數(以上條件下的修訂正在考慮之中)

文章來源全球免費咨詢熱線:4000-662-888

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