電力線路中絕緣子表面積聚的污穢物可分為可溶解污物和不可溶解污物即惰性污物。可溶解污物用等值附鹽密度( ESDD) 表征, 已廣泛應用于污穢試驗、污穢閃絡機理分析和電力系統污穢等級劃分等研究中; 不可溶解污物用灰密(NSDD) 表征。

在鹽密度ρESDD 一定的情況下, 染污絕緣子串污閃電壓Uf隨著灰密度ρNSDD 的增加而不斷減小的原因是: 污層中的不溶污物雖本身不導電, 但它保持的水份卻可以溶解電解質, 增大導電率。同時隨著附著在絕緣子表面的不溶物的增加, 絕緣子表面所吸收的水分就越多, 形成了更厚的水膜, 降低染污絕緣子表面電阻, 導致泄漏電流增大。

通過大量數據分析結果表明, 染污絕緣子串污閃電壓Uf 與鹽密度ρESDD、灰密度ρNSDD 之間呈三維曲面關系, 隨著ρESDD和ρNSDD 的增加, Uf 逐漸下降; 在ρESDD、ρNSDD較小時Uf 下降較快, 隨著ρESDD 和ρNSDD 的增加, Uf 下降趨勢變緩, 這與分別考慮ρESDD 及ρNSDD 作用時, 對Uf 的影響是類似的。

總體來看灰密度和鹽密度均對絕緣子污閃電壓有影響。以XP - 160 瓷絕緣子為例，灰密影響特征指數為0. 14 , 鹽密影響特征指數為0. 24 , 鹽密影響是灰密影響的1. 71 倍, 即鹽密影響大于灰密影響。

ρNSDD 與污閃電壓Uf 的關系在等值鹽密度ρESDD 分別為0. 026 mg/ cm2、0. 068 mg/ cm2及0. 14 mg/ cm2 時試驗研究了XP - 160 懸式瓷絕緣子污閃電壓Uf 隨灰密度ρNSDD 變化的關系, 試驗結果如表3 , 試驗得到的Uf 標準偏差在7 %之內。對表3 的試驗結果進行曲線擬合, 可得到同一ρESDD下Uf 與ρNSDD 的關系, 如圖3 所示。

由表3 可知, 不同ρESDD 下7 片串人工污穢絕緣子串的Uf 均隨著ρNSDD 增加而下降; 并且ρNSDD 較小時, 隨ρNSDD 的增加Uf 下降較快, 隨著ρNSDD 的繼續增加, Uf 下降趨勢變緩, 這種趨勢與絕緣子串閃絡電壓和ρESDD 之間的關系一致。