源于超薄的厚度引起的量子限域效應,使得二維材料在透明電極、光電探測器、氣敏電阻、太陽能電池等領域得到廣泛應用。霍爾效應及電阻率是表征納米材料電性能的重要手段之一。
測試面臨的挑戰
電阻率及霍爾效應測試均是加流測壓的過程,需要設備具備電流源以及電壓表的功能。
不同種類的材料,電阻范圍超寬,從mQ~GQ;
材料的電阻率及電子遷移率通常范圍較大,需要設備具備的電流范圍大。
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