在半導體材料和器件的研究中，電性能測試是必不可少的環節。隨著半導體技術的提升，微電子工藝逐漸復雜，如何對微電子材料器件進行高效率測試成為業內關注的重點。普賽斯儀表陸續推出多型號國產化數字源表SMU，為進一步打通測試融合壁壘，打造閉環解決方案，通過對半導體高端測試裝備上下游產業鏈的垂直整合，晶圓級微電子材料器件測試系統應運而生!
普賽斯數字源表SMU是整個測試系統的核心部分，用戶可以根據材料器件不同的電流、電壓，配置不同規格參數的源表和探針臺。微電子器件材料電性能測試SMU源表認準普賽斯儀表，詳詢一八一四零六六三四七六；

更高效—靈活測試：

體積小巧，節省實驗臺空間
接線簡單，無需繁雜的同步觸發操作
適應多種測量模式，如四探針、三同軸等

更可靠—廣泛應用：
利用普賽斯這套國產化高精度數字源表 探針臺的測試系統，可以為您完成任何晶圓、芯片、微小電子器件的測試。

目前，普賽斯儀表已擁有涵蓋直流源表、脈沖源表、窄脈沖源、大電流脈沖源、高電流源、高電壓源、大功率激光器測試電源、插卡式源表、數據采集卡、脈沖恒壓源等完整的國產化數字源表解決方案，可為不同領域、不同需求的用戶提供全方位的測試支持，打造高效、靈活的微電子材料器件測試系統!