LED必須在合適的電流電壓驅(qū)動下才能正常工作。其電壓-電流之間的關(guān)系稱為I-V特性。通過對LED電特性的測試，可以獲得對應(yīng)正向電壓（Vf）、反向電壓（Vr）及漏電流（Ir）等參數(shù)，以及相應(yīng)的I-V曲線。常用的測試方法一般為在LED器件的兩端，加電壓測試電流，或者加電流測試電壓。此外，還可以根據(jù)客戶要求，搭配相應(yīng)的光學(xué)測試系統(tǒng)，測試相應(yīng)的光學(xué)性能。led漏電流測試高精度源表認準普賽斯儀表，詳詢一八一四零六六三四七六；

（典型二極管I-V特性曲線） 

                                   （LED光電測試系統(tǒng)示意圖）

Vf正向?qū)妷簻y試

正向?qū)妷海荓ED在正常工作電流下測量的電壓值。當(dāng)加載在LED兩端的工作電壓，低于導(dǎo)通電壓時，通過LED的電流極小，不發(fā)光。當(dāng)電壓超過該值后，通過LED的電流隨電壓迅速增加，而后LED發(fā)光。常用測試方法為，將LED的正極接在高電位端，負極接在低電位端，逐漸增加LED的電流（電流值一般為幾mA），并同時測量LED兩端的電壓（電壓值范圍在幾V以內(nèi)）。而后根據(jù)實際測試需要，對數(shù)據(jù)進行分析，得到相應(yīng)的Vf值。

Vr 反向擊穿電壓測試

反向擊穿電壓，是所允許加載在LED兩端的Z大反向電壓。當(dāng)二極管兩端的反向電壓超過Vr后，反向電流會急劇增大，二極管將失去單方向?qū)щ娞匦裕@種狀態(tài)稱為二極管的擊穿。若長時間工作電壓超過Vr，發(fā)光二極管可能被擊穿損壞。常用測試方法為，將LED的正極接在低電位端，負極接在高電位端，逐漸增加LED的電流（電流值一般為幾mA），并同時測量LED兩端的電壓（電壓值范圍在幾V以內(nèi)）。而后根據(jù)實際測試需要，對數(shù)據(jù)進行分析，得到相應(yīng)的Vr值。由于源表可作為四象限工作的電壓源，因此，在測試時，無需將接線端反接。源表內(nèi)部會自動根據(jù)設(shè)定值，切換輸出端的極性。

Ir漏電流測試

漏電流，指LED處于反向偏置狀態(tài)時，流過二極管的微弱反向電流。此時，LED兩端的電壓低于Vr。常用的測試方法為，將LED的正極接在低電位端，負極接在高電位端，而后根據(jù)實際測試需要，設(shè)定加載在LED兩端的電壓，測量電流Ir。

繪制LED I-V特性曲線測試

連接

如下圖所示，選擇合適的夾具，將LED與S型源表進行連接

（源表測試連接示意圖）

S型源表簡介

普賽斯S系列高精度源表，集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能于一體。產(chǎn)品Z大輸出電壓達300V，最小測試電流達100pA，分辨率低至10pA，支持四象限工作，因此,可廣泛應(yīng)用于各種半導(dǎo)體器件I-V電特性測試，如半導(dǎo)體IC，功率半導(dǎo)體器件，傳感器，LED等。產(chǎn)品具有如下特點：

采用5寸800*480觸摸顯示屏，全圖形化操作，操作簡單方便

內(nèi)置豐富的掃描模式，支持線性掃描、指數(shù)掃描及用戶自定義掃描

四象限工作模式，可在源模式或肼模式下工作

支持USB存儲，一鍵導(dǎo)出測試報告

兼容多種上位機通訊方式，RS-232、GPIB及以太網(wǎng)

可搭配普賽斯自主開發(fā)的上位機軟件使用，快速實現(xiàn)不同器件的測試

led漏電流測試高精度源表聯(lián)系我們：

單位名稱：武漢普賽斯儀表有限公司

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