inTEST-Temptronic thermostream 高低溫測試機應用于半導體芯片溫度測試
上海伯東美國 inTEST 高低溫測試機可與愛德萬 advantest, 泰瑞達 teradyne, 惠瑞捷 verigy 工程機聯用, 進行半導體芯片高低溫測試. inTEST 高低溫測試機可以快速提供需要的模擬環境溫度滿足半導體芯片的溫度沖擊和溫度循環測試.
半導體芯片溫度測試案例: 上海伯東客戶某半導體廠商選用 inTEST-Temptronic thermostream ATS-710-M 高速溫度測試機, 提供循環測試溫度：-80?C 至 225?C，每秒可快速升溫/降溫 18 ?C，成功完成芯片的高低溫循環測試, 疲勞失效測試.
inTEST-Temptronic ATS-710-M 提供 2 種檢測模式 Air Mode 和 DUT Mode，溫度顯示精度：?1?C (通過美國國家標準與技術研究院 NIST 校準) ，不需要液態氮氣 (N2) 或液態二氧化碳 (CO2)冷卻。

鑒于信息保密，更詳細的 Temptronic thermostream 半導體芯片溫度測試應用案例，歡迎撥打客服熱線：021-5046-3511

上海伯東客戶現場圖片：

inTEST ThermoStream 已全面取代 Temptronic 和Thermonics
Temptronic 創立于 1970 年, 在 2000 年被 inTEST 收購, 成為在美國設立的超高速溫度環境測試機的首家制造商. 而 Thermonics 創立于1976年, 在 2012 年被 inTEST 收購, 使 inTEST 更強化高低溫循環測試以及溫度沖擊測試領域的實力. 在 2013 年 inTEST Thermal Solutions 用嶄新的研發技術發展出獨創的溫度環境測試機, 將 Temptronic TPO 系列以及 Thermonics PTFS 系列整合進化成 inTEST ThermoStream ATS 超高速溫度環境測試系列產品. 上海伯東作為 inTEST 中國總代理, 全權負責  inTEST 新品銷售和售后維修服務.

若您需要進一步的了解詳細產品信息或討論 , 請參考以下聯絡方式 :

上海伯東 : 羅先生                               臺灣伯東 : 王小姐
T: 86-21-5046-1322                   T: 886-3-567-9508 ext 161
F: 86-21-5046-1490                        F: 886-3-567-0049
M: 86 152-0195-1076                     M: 886-939-653-958
www.hakuto-china.cn                    www.hakuto-vacuum.com.tw

伯東版權所有, 翻拷必究！