inTEST 熱流儀觸摸屏控制芯片高低溫沖擊測試
觸摸屏控制芯片又稱觸摸屏芯片, 觸控芯片, 屬于半導體芯片一種, 廣泛應用于如消費類電子, 家用電器, 車載觸摸屏, 移動終端, 智能電網, 物聯網等多個領域. 觸控芯片的關鍵性能指標, 除響應速度, 抗電磁干擾, 防水等要求外, 芯片工作溫度也要求非常高.
上海伯東美國 inTEST 熱流儀提供觸摸屏控制芯片高低溫測試解決方案
某觸控芯片企業, 其產品已在全球十多億臺智能設備上運行, 廣泛應用于手機, 平板電腦, 筆記本電腦, 智能家居, 汽車等產品. 一直采用上海伯東美國 inTEST ATS-710E-M 熱流儀與其測試機搭配, 為分析觸摸屏控制芯片, 觸摸板控制芯片, MCU 觸摸按鍵等產品的特性提供快速精準的外部溫度環境, 實現測試芯片性能的要求.
inTEST 熱流儀滿足觸控芯片的三項測試標準:
一. 基本性能測試: 溫度范圍 -50℃ 至 120℃ 之間快速循環測試
二. 特殊功能測試（非標準測試）: 搭配測試機共同使用, 通過軟件控制機臺, 通常設定3個溫度點, 高溫（80℃或 120℃）, 常溫 25℃, 低溫 -50℃; 結合測試機測參數, 測試時間可幾秒鐘, 幾十分鐘, 甚至幾個小時.
三. 可靠性測試
上海伯東美國 inTEST ThermoStream 熱流儀是為觸摸屏芯片提供低溫或高溫環境來進行可靠性測試的專用儀器, 因為其能在短時間內迅速改變溫度而被廣泛應用于芯片測試中, 能夠模擬觀察芯片在惡劣環境下的性能是否能維持正常水平. 測試系統在工作過程中, 會依據設定的溫度, 使系統通過特定的運算得出結果并去控制加熱器來達到調節溫度的目的.
 

inTEST 熱流儀功能特點

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