inTEST 高低溫測試機車規級芯片測試
在車規級芯片可靠性測試方面, 上海伯東美國 inTEST ThermoStream ATS 系列高低溫測試機有著不同于傳統高低溫箱的獨特優勢: 變溫速率快, 每秒快速升溫 / 降溫18?C, 實時監測待測元件真實溫度, 亦可隨時調整沖擊氣流溫度, 可針對 PCB 電路板上眾多元器件中的某一單個IC, 單獨進行高低溫沖擊, 而不影響周邊其它器件.
車規級芯片高低溫測試案例: 上海伯東客戶某知名半導體芯片設計公司自主設計及研發國產車載芯片, 要求在溫度范圍 - 50 ℃~ 150 ℃ 時搭配模擬和混合信號測試儀, 在電工作下檢查不同溫度下所涉及到的元器件或模塊各項功能是否正常. 經過伯東推薦, 客戶采購 inTEST 高低溫測試機 ATS-545, 測試溫度范圍 -75 至 225?C, 輸出氣流量 4 至 18 scfm, 溫度精度 ?1℃, 通過使用該設備, 大幅提高工作效率, 并能及時評估研發過程中的潛在問題, 使產品符合汽車安全的電子產品標準!

車規級芯片高低溫測試方法
1. 將被測芯片或模塊放置在測試治具上, 將 ATS-545 的玻璃罩壓在相應治具上 ( 產品放在治具中 ).
2. 設置需要測試的溫度范圍.
3. 啟動 ThermoStream ATS-545, 利用空壓機將干燥潔凈的空氣通入高低溫測試機內部制冷機進行低溫處理, 然后空氣經由管路到達加熱頭進行升溫, 氣流通過玻璃罩進入測試腔. 玻璃罩中的溫度傳感器可實時監測當前腔體內溫度.
4. 在汽車電子芯片測試平臺下, 高低溫測試機 ATS-545 快速升降溫至要求的設定溫度, 實時檢測芯片在設定溫度下的在電工作狀態等相關參數, 對于產品分析, 工藝改進以及批次的定向品質追溯提供確實的數據依據.

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