惠普HP-8720C集成信號源是全合成化的信號源，即使在掃描時，其穩定度和精度也處在10ppm范圍(典型值)。另外，掃描速度極快。典型情況下，測量的更新時間約為每個測量點1ms，頻率分辨率標準為100kHz，選件001提供1Hz的分辨率，對窄帶或長延遲器件提供精確的測量。 具有可變帶寬IF濾波器的調諧接收機提供達103dB的動態范圍。內置轉換測試裝置用一次連接即可測量所有4個S參數(正向和反向)。<BR>兩個獨立的通道可同時顯示兩種測量結果，如反射和傳輸響應。接收機對幅度和相位兩者進行檢測，并以多種實用的格式顯示測量結果，包括在直角坐標、極坐標或史密斯圓圖上顯示群延遲、與線性相位的偏離、復阻抗和SWR。<BR>內置的矢量精度增強措施對所有通用同軸連接器提供優良的誤差修正精度。用戶配件能提供由用戶定義的標準件，允許進行波導校準(包括色散效應)。從簡單響應標準到全雙端誤差修正中選擇。或者使用TRL來測量夾具上的非同軸器件(微帶)。<BR>測量有源器件的強有力的功能<BR>HP8720C在其測量端口上有+10dBm的功率，有足夠的功率用于對放大器進行測試。對于一些靈敏的小信號器件，內置步進衰減器可以將功率減小到-65dBm。利用功率計的校準功能，絕對功率電平可以在系統的任何地方進行精確調節。功率掃描功能和0.1dB的功率分辨率簡化了對有源器件的增益-壓縮特性的測試。此外，有2個內部的T型通過測試端口用于偏置晶體管。<BR>分析安裝在夾具中和晶片上的器件特性<BR>利用TRL*校準將夾具誤差減至最小，以便對非同軸器件(如微帶)進行測量。也可以將網絡分析儀與晶片探測臺相結合，以便能在晶片上直接測量器件。電子端口延伸和選通也可用來提高精度。<BR>時域和故障定位<BR>用時域功能（選件010）對被測件（DUT）的響應隨時間或距離（而不是頻率）的變化進行計算和顯示。還可利用時域來查找并定量表示一個網絡中個別故障或不連續點的位置。應用選通功能來消除不希望的反射的影響（及時分離），然后觀察DUT的真實響應隨頻率變化的情況。</P>