四探針?阻測試儀是運?四探針原理測量?塊電阻的專?儀器，電阻率和電導率同時顯?。儀器

測試范圍0-10MΩ，最?分辨率0.1uΩ，電阻最?精度0.01%，精度2%。可?于測試半導體、?屬涂層導電薄膜等材料的?阻和電阻率。

材料電導率測試儀是運用四探針測量原理測試試導體、半導體材料電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國A.S.T.M 標準。

四探針?阻測試儀  儀器成套組成：由主機、選配的四探針探頭和測試臺等三部分組成。

主機主要由數控恒流源，高分辨率ADC、嵌入式單片機系統組成。自動/手動量程可選；電阻率、方阻、電阻測試類別快捷切換：儀器所有參數設定、功能轉換全部采用數字化鍵盤輸入，簡便可靠；具有零位、滿度自校功能；測試結果由數字表頭直接顯示。本測試儀采用可充電鋰電池供電，適合手持式變動場合操作使用！

探頭選配：根據不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量。配專用探頭，也可測試電池極片等箔上涂層電阻率方阻。

儀器具有測量范圍寬、精度高、靈敏度高、穩定性好、智能化程度高、外形美觀、使用簡便等特點。

儀器適用于半導體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。

測試原理：

傳統四探針方法的原理如圖1所示,局限于I14 V 23單一狀態,它要求探針間距相等,被測物較小

或探針在邊界附近,需做幾何測量繼而進行邊界修正,造成不便且有時難以保證準確度. 這種方法

只是普遍規律中的一個特例 ,并非四探針技術之全貌. 所謂雙電測是指讓電流先后通過不同的探針對,測量相應另外兩針間電壓,進行組合,按相關的公式求出電阻值. 這時幾何影響消失,針距和邊界的負面效應將不存在,四探針將實現“自我修正”,誤差減小. 雙電測法共有三種組合模式,即Mode1 、Mode2 、Mode3 ,見圖2所示。

技術參數

1. 測量范圍、分辨率（括號內為拓展量程，可定制）

電   阻：10.0?10-6 ～200.0?103  Ω,    分辨率1.0?10-6 ～0.1?103  Ω

         （1.0?10-6 ～20.00?103  Ω,    分辨率0.1?10-6 ～0.01?103 Ω）

電阻率：10.0?10-6 ～200.0?103 Ω-cm   分辨率1.0?10-6 ～0.1?103  Ω-cm

         （1.0?10-6 ～20.00?103 Ω-cm  分辨率0.1?10-6 ～ 0.01?103 Ω-cm）

方塊電阻：50.0?10-6 ～1.0?106 Ω/□    分辨率5.0?10-6 ～0.5?103  Ω/□

         （5.0?10-6 ～100.0?103 Ω/□  分辨率0.5?10-6 ～0.1?103  Ω/□）

2. 材料尺寸(由選配測試臺和測試方式決定)

直   徑：SZT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，手持方式不限

SZT-B/C/F方測試臺直接測試方式180mm?180mm，手持方式不限.

長(高)度：  測試臺直接測試方式 H≤100mm,    手持方式不限.

四端測試法是目前較先進之測試方法，主要針對高精度要求之產品測試；本儀器廣泛用于生產企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。

本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料之電導率。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電導率單位自動選擇，BEST-300C材料電導率測試儀自動測量并根據測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置。選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數據，自動生成圖表和報表。

特點：

●電阻最?精度：0.01%，最小分辨率0.1uΩ；

●方電阻精度：1%，最小分辨率：0.1uΩ；

●雙電測原理，提?精度和穩定性；

●測試探頭直排和矩形可選；

●標配RS232、LAN、IO、通訊接?；

●可配戴軟件查看和記錄測試數據；

數字電壓表：

⑴量程： 20.00mV

⑵誤差：?0.2%FSB?2LSB

⑶最大分辨力：1.0?V

顯示: 4位數字顯示，小數點自動顯示

四探針探頭、探針選型表

根據不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等材料的電阻率/方阻。

由于新型薄膜材料種類繁多，研制過程中樣品性能變化較大，而且各種薄膜的機械強度，允許承受的電壓、電流均不相同，因此公司可為用戶量身定制各種特定探針壓力及曲率半徑的探針頭。

產品概要

BEST系列四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途寬量程綜合測量設備。該儀器是按照單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國A.S.T.M 標準而設計的，可用于測試半導體及其他各種材料電阻率及方塊電阻的專用儀器。儀器運用雙電測原理，進行多次測量，自動消減樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響，它與單電測相比，大大提高測量精度和一致性。

  儀器選配U盤數據記錄接口，可方便的進行測試數據的記錄；標配USB接口和RS232接口可與電腦相連接；電腦配套操作軟件可以方便直觀的直接對儀器進行全功能操作、并記錄數據,方便對材料進行電氣分析。儀器測量精度高、穩定性好、智能化程度高、操作簡單、測試結果顯示直觀，廣泛運用于半導體材料廠、科研單位、高等院校等對各種半導體、類半導體材料、導體材料及各種新材料的導電性能的測試。

適用范圍：

適用于片狀或塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率及擴散層的薄層、太陽能等材料的測試.配置不同的測試探頭，可以測量柔性材料導電薄膜、金屬涂層或陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層材料的電阻率/方阻.也可使用電阻測試夾具直接測量電阻器電阻

關鍵詞：半導電電阻率測試 半導電絕緣電阻率測試

北廣精儀BEST-300C半導電電阻率測試儀成功中標比亞迪汽車有限公司，助力新能源汽車核心材料檢測升級  

近日，北廣精儀儀器設備有限公司（以下簡稱“北廣精儀”）自主研發的BEST-300C半導電電阻率測試儀成功中標比亞迪汽車有限公司（以下簡稱“比亞迪”），成為比亞迪在電池材料、半導體組件及關鍵導電材料檢測環節的重要設備供應商。此次合作標志著北廣精儀在新能源行業檢測技術領域的領先地位進一步鞏固，同時也為比亞迪提升電池安全性與材料性能提供了強有力的技術支撐。  

精準檢測，護航電池安全

在新能源汽車制造中，電池材料的導電性能直接影響電池的安全性、續航能力及使用壽命。比亞迪作為全球新能源汽車領域的領軍企業，對電池及半導體材料的電阻率測試提出了極高要求。北廣精儀BEST-300C半導電電阻率測試儀憑借高精度、高穩定性及智能化數據分析能力，成功通過比亞迪嚴格的設備選型測試，成為其供應鏈質量管控體系的重要一環。  

該設備將主要用于比亞迪動力電池正負極材料、隔膜、導電涂層等關鍵部件的電阻率檢測，確保材料導電性能符合高標準要求，從而提升電池的一致性和安全性，助力比亞迪打造更可靠的新能源汽車產品。 

技術領先，賦能智能制造 

BEST-300C半導電電阻率測試儀采用四探針法測量技術，符合IEC 62660、GB/T 24525等行業標準，具備以下核心優勢：  

高精度測量：測試范圍覆蓋10^-8~10^8 Ω?cm，分辨率達0.1%，滿足半導體、新能源材料等多場景需求；  

智能化操作：配備觸摸屏控制及數據自動存儲功能，支持PC端數據分析，提升檢測效率；   

穩定可靠：采用抗干擾設計，適應實驗室及產線環境，確保長期穩定運行； 

定制化服務：可根據客戶需求調整測試模式，兼容不同材料形態（薄膜、塊體、粉末等）。 

北廣精儀技術總監表示：BEST-300C的研發初衷正是為了解決新能源行業對材料導電性能的精準檢測需求。此次與比亞迪的合作，是對我們技術實力的高度認可。我們將持續優化產品，為行業提供更先進的檢測解決方案。  

深化合作，共拓新能源未來 

此次中標是北廣精儀與比亞迪在檢測設備領域的首次合作，也為雙方未來在電池材料、半導體器件等領域的深度協作奠定了基礎。北廣精儀將持續聚焦新能源行業檢測痛點，推動高精度、自動化檢測技術的創新應用，助力比亞迪等領軍企業實現更高效、更智能的質量管控。 

關于BEST-300C半導電電阻率測試儀  

該設備廣泛應用于新能源汽車、半導體、電子材料等行業，適用于石墨烯、碳納米管、鋰電材料等半導電材料的電阻率測試，是研發與質量控制的關鍵工具。 

關于北廣精儀儀器設備有限公司 

北廣精儀是國內領先的精密檢測儀器制造商，專注于材料電學、光學及力學性能測試技術的研發，為新能源、汽車、航空航天等領域提供高端檢測設備與解決方案。 

關于比亞迪汽車有限公司

比亞迪是全球新能源汽車領導者，業務涵蓋電動汽車、電池、儲能及電子代工，以技術創新推動綠色出行發展。 

此次合作不僅彰顯了北廣精儀在材料檢測領域的技術實力，也為新能源汽車產業鏈的高質量發展提供了重要支持。雙方將攜手探索更智能、更高效的檢測技術，共同推動行業進步。