陶瓷材料的損耗
陶瓷材料的介質(zhì)損耗主要來源于電導損耗、松弛質(zhì)點的極化損耗和結(jié)構損耗。此外,表面氣孔吸附水分、油污及灰塵等造成的表面電導也會引起較大的損耗。
在結(jié)構緊密的陶瓷中,介質(zhì)損耗主要來源于玻璃相。為了改善某些陶瓷的工藝性能,往往在配方中引人此易熔物質(zhì)(如黏土),形成玻璃相,這樣就使損耗增大。如滑石瓷、尖晶石瓷隨黏土含量增大,介質(zhì)損耗也增大。因面一般高頻瓷,如氧化鋁瓷、金紅石等很少含有玻璃相。大多數(shù)電陶瓷的離子松弛極化損耗較大,主要的原因是:主晶相結(jié)構松散,生成了缺固濟體、多品型轉(zhuǎn)變等。
高分子材料的損耗
高分子聚合物電介質(zhì)按單體單元偶極矩的大小可分為極性和非極性兩類。一般地,偶極矩在0~0.5D(德拜)范圍內(nèi)的是非極性高聚物;偶極矩在0.5D以上的是極性高聚物。非極性高聚物具有較低的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗,其介電常數(shù)約為2,介質(zhì)損耗小于10-4;極性高聚物則具有較高的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗,并且極性愈大,這兩個值愈高。
高聚物的交聯(lián)通常能阻礙極性基團的取向,因此熱固性高聚物的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗均隨交聯(lián)度的提高而下降。酚醛樹脂就是典型的例子,雖然這種高聚物的極性很強,但只要固化比較完全,它的介質(zhì)損耗就不高。相反,支化使分子鏈間作用力減弱,分子鏈活動能力增強,介電常數(shù)和介質(zhì)損耗均增大。
高聚物的凝聚態(tài)結(jié)構及力學狀態(tài)對介電性景響也很大。結(jié)品能抑制鏈段上偶極矩的取向極化,因此高聚物的介質(zhì)損耗隨結(jié)晶度升高而下降。當高聚物結(jié)晶度大于70%時,鏈段上的偶極的極化有時完全被抑制,介電性能可降至低值,同樣的道理,非晶態(tài)高聚物在玻璃態(tài)下比在高彈態(tài)下具有更低的介質(zhì)損耗。此外,高聚物中的增塑利、雜質(zhì)等對介電性能也有很大景響。
介質(zhì)損耗(dielectric loss )指的是絕緣材料在電場作用下,由于介質(zhì)電導和介質(zhì)極化的滯后效應,在其內(nèi)部引起的能量損耗。也叫介質(zhì)損失,簡稱介損。
介質(zhì)損耗因數(shù)(dielectric loss factor)指的是衡量介質(zhì)損耗程度的參數(shù)。
功能介紹
1.自動停機:試樣破壞后,移動橫梁自動停止移動(或自動返回初始位置、
2.自動換檔:根據(jù)試驗力大小自動切換到適當?shù)牧砍蹋源_保測量數(shù)據(jù)的準確性
3.條件模塊:試驗條件和試樣原始數(shù)據(jù)可以建立自己的標準模塊的形式存儲;方便用戶的調(diào)用和查看,節(jié)省試驗時間
4.自動變速:試驗過程的位移速度或加載速度可按預先編制、設定的程序自動完成也可手動改變
5.自動程制:根據(jù)試驗要求,用戶可方便的建立自己的試驗模板(方法、,便于二次調(diào)用,可實現(xiàn)試驗加載速度、應力、應變的閉環(huán)試驗控制
6.自動保存:試驗結(jié)束,試驗數(shù)據(jù)和曲線計算機自動保存,杜絕因忘記存盤而引起的數(shù)據(jù)丟失
7.測試過程:試驗過程及測量、顯示、分析等均由微機完成
8.批量試驗:對相同參數(shù)的試樣,一次設定后可順次完成一批試驗
9.試驗軟件:中文Windows用戶界面,操作簡便
10.顯示方式:數(shù)據(jù)與曲線隨試驗過程動態(tài)顯示
11.曲線遍歷:試驗完成后,可對曲線進行放大再分析,用鼠標查到試驗曲線上各點對應的數(shù)據(jù)
12.試驗報告:可根據(jù)用戶要求進行編輯打印
13.限位保護:具有程控和機械兩級限位保護
14.過載保護:當負荷超過額定值3~5%時,自動停機
15.報告顯示:自動和人工兩種模式求取各種試驗結(jié)果,自動形成報表,使數(shù)據(jù)分析過程變的簡單,便于用戶
16.添加試驗方法:用戶可跟據(jù)試驗要求,添加試驗方法
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