光學測量儀器和光學設備測試系統

甚至解決了脈沖光測量的問題

Q8381A

寬波長范圍： 0.35 至 1.75 ?m

極化依賴性低：? 0.1 dB 或更低

高輸入靈敏度：-85 dB

獨特的脈沖光測量功能

功率監控功能

多功能記憶功能

Q8381A

光學頻譜分析儀

Q8381A 光頻譜分析儀可分析 350 至 1750 nm 的寬波長帶和 -85 至 10 dBm（1.1 至 1.6 ?m）的寬動態范圍，適用于 LED 顯示屏和通信光設備的測量。

此外，ADVANTEST 的獨特技術實現了低偏振依賴性和 ? 1.5 dB 的高水平測量精度。

除了自動最佳測量條件設置、自動峰值搜索和半值寬度測量功能外，

Q8381A 還具有脈沖光測量功能、功率監控功能和亮度補償顯示功能，從而提高了操作和分析能力。

在傳統的脈沖光測量中，即使進行多次求平均值并獲得占空比的平均功率，也可能導致電平過低和數據丟失。Q8381A 解決了所有這些問題。

高靈敏度的寬波長測量

Q8381A 可以 -85 dBm 的高靈敏度測量 1.1 至 1.6 ?m 的寬波長范圍。

因此，可以在寬動態范圍內對來自摻鉺光纖放大器（EDFA）的自發輻射光進行電平測量，并結合白光光源進行波長特性測量。

寬動態范圍測量

通過最大限度地降低環境光照度，Q8381A 實現了寬動態范圍，與峰值波長相比，1 nm 時為 40 dB，5 nm 時為 50 dB。

這種性能水平非常適合測量 DFB 激光二極管的側模抑制比。

高速測量

在正常模式下，Q8381A 可以在 0.8 秒或更短的時間內實現高速測量（跨度為 200 nm），從而可以安全地測量光譜變化。

在調整濾光片中心波長時，它可以通過標記間掃描進行實時測量。

低偏振依賴性確保了

高精度電平測量

憑借 ADVANTEST 的獨特技術，Q8381A 的電平測量精度可達 ? 1.5 dB，所有波段的偏振相關性低至 ? 0.1 dB。

波長靈敏度特性也在所有波段得到補償，從而實現了更精確的電平測量。

精確的脈沖光測量

迄今為止，脈沖調制光信號的光譜都是在平均后測量的。然而，測得的光譜可能低于實際發光電平，或出現數據丟失。

為了解決這個問題，Q8381A 提供了兩種測量模式： 脈沖掃描模式和門控測量模式。

功率監控功能

使用光學頻譜分析儀分析光束時，需要與光纖耦合。傳統方法是將光束送入分析儀，同時使用光功率計監測耦合情況。

Q8381A 的功率監控功能與光功率計的使用方法相同。