光學測量儀器和光學設備測試系統(tǒng)

可進行相干測量的光頻譜分析儀

■相干測量

■1.5 秒/掃描的高速測量

■波長范圍寬，從 0.35 微米到 1.75 微米

■波長測量精度為 0.1 納米

Q8344A 是一款光學光譜分析儀，波長范圍寬達 0.35 至 1.75 ?m。

通過使用邁克爾遜干涉儀的傅立葉光譜系統(tǒng)，可以分析使用單色器的分散光譜系統(tǒng)無法獲得的相干性。

它展示了評估光盤和視頻磁盤激光二極管的能力。

光學測量儀器和光學設備測試系統(tǒng)內置 He-Ne 激光器用作參考波長，波長精度為 ? 0.1 nm (1.3 ?m)，即使不進行波長校準，也能確保長期測量的穩(wěn)定性。

Q8344A 的最大波長分辨率為 0.05 nm（0.85 ?m），適合測量模式間隔較窄的激光二極管。

測量速度約為 1.5 秒（0.4 至 1.05 ?m 和 0.8 至 1.75 ?m），與分析跨度無關，因此可作為系統(tǒng)組件使用。

Q8344A 具有多功能顯示、分析和處理功能，可用于各種元件的特性測量應用，從激光二極管和 LED 等發(fā)光元件到光纖和濾波器等光學元件。

相干測量

由于 Q8344A 使用邁克爾遜干涉儀，因此可用于相干性測量。通過這一功能，可以輕松評估視頻磁盤激光二極管回光引起的噪聲抑制性能。

分析范圍約為?10 毫米，可以測量光纖陀螺使用的 SLD（超級發(fā)光二極管）的相干長度。

1.5 秒/掃描的高速測量

非常適合生產應用

Q8344A 采用傅立葉光譜系統(tǒng)，因此無論測量跨度和靈敏度如何，都能在 1.5 秒內完成測量（前提是起始波長為 0.4 ?m 或更長，且測量不同時覆蓋短波長和長波長）。

因此，該分析儀適用于在生產線上測量激光二極管和發(fā)光二極管。此外，還可用于評估光纖和濾波器的傳輸和損耗特性。

作為系統(tǒng)組件使用時，分析儀只需 1.5 秒即可完成觸發(fā)、測量和數據輸出，極大地提高了系統(tǒng)吞吐量。

波長測量精度為 ? 0.1 nm

使用內置 He-Ne 激光器作為參考光源，測量波長精度高達 ? 0.1 nm（波長為 1.3 ?m）。

因此，無需波長校準即可進行精確的波長測量。

最大波長范圍為 0.05 nm

Q8344A 在短波長（0.85 ?m）時的最大分辨率為 0.05 nm，因此可以通過逐個完全解析振蕩模式來測量 CD 和可見光激光二極管。

大口徑光纖輸入（選件）

可選配 200 ?m 大口徑輸入。在分析波長大于標準光纖口徑（GI 50 ?m）的設備時，需要使用該選件。

對于激光二極管分析，建議使用標準 50 ?m 規(guī)格，而對于 LED 分析，建議使用此選配規(guī)格。