●高速、高精度測量 LD

●高速測量選項： 0.5 s

●窄相干測量分辨率：0.001 毫米

●十倍以上的高波長精度：?0.01 nm（選件）

●高波長分辨率選項： 0.01 nm，波長 650 nm

●測量波長范圍廣： 350 納米至 1000 納米

●小巧輕便的平臺

高通量能力

Q8341 是一款用于可見輻射的光學頻譜分析儀，波長范圍為 350 nm 至 1000 nm。

Q8341 采用帶有邁克爾遜干涉儀的傅立葉光譜系統，因此可以測量相干性。

Q8341 的窄波長分辨率為 0.01 nm，不僅對 CD/DVD 激光二極管，而且對藍紫色激光二極管的評估都非常有效。

此外，內置的 He-Ne 激光器可作為波長基準，確保 ?0.01nm 的高波長測量精度。

最后，Q8341 具有 0.5 秒*的快速測量速度，是評估系統元件溫度特性的理想之選。

●相干測量分辨率： 0.001 毫米

●波長分辨率（650 納米）： 

0.05 nm（標準），0.01 nm（選件） 

峰值波長的測量分辨率為 0.001 nm

●波長測量精度： 

?0.05 nm（標準），?0.01 nm（選件）

●最大輸入電平：?10 dBm

●最大 相干測量長度： 

約 10 毫米（標準），約 40 毫米（選件）

●波長測量范圍 350 至 1000 納米

●體積小、重量輕

測量原理

Q8341 采用邁克爾遜干涉儀。在這種安排中，來自被測設備的光被分割成兩條路徑（在兩條路徑之間產生干涉）。

由此產生干涉圖。橫軸表示兩條光路的長度差（即時間或相位）。而縱軸則表示干涉光強度。

這就是被測設備的自相關性。對該函數進行 FFT 處理，就能得到功率譜。為此，我們使用 He-Ne 激光器作為波長參考源。

特點

高速測量選項： 0.5 s. 

制造/生產環境的理想之選 Q8341 可在約 0.5 秒內測量整個跨度。這一特性使 Q8341 成為激光和發光二極管生產線的理想之選。

此外，這種快速測量速度也非常適合高產能環境。

出色的相干分析長度

分析長度 最大約 40 毫米（選件）

最大約 10 毫米（標準）

最大長度分辨率 0.001 毫米 

Q8341 還能評估光盤激光二極管的相干性。Q8341 分析長度長達 40 毫米，分辨率窄至 0.001 毫米，最適合評估藍紫色激光二極管和其他緊湊型光學元件。

高波長精度

波長精度：?0.01 nm（選配），?0.05 nm（標準）

Q8341 內置 Ne-He 激光參考光源，可實現高波長精度的光譜測量。

窄分辨率測量藍紫色激光二極管的振蕩模式

波長分辨率（650 nm 時）： 

0.01 nm（選配）

0.05 nm（標準）

Q8341 具有窄分辨率，可分離藍紫色激光二極管的振蕩模式。此外，峰值波長的測量分辨率為 0.001 nm，非常適合監測受 DUT 環境影響的測量結果。

用于高通量測量

Q8341 采用大容量內存和高性能計算單元，可快速存儲數據。然后，計算單元對這些數據進行計算，以顯示指定的波長和跨度。

例如，如果 Q8341 要分析兩個波長范圍（650 nm ?50 nm 和 780 nm ?50 nm）的光譜，則只需改變其顯示范圍即可執行兩個不同 LD 的光譜分析。

所有這些都無需重新配置系統即可完成。因此，Q8341 縮短了批量生產系統使用的索引時間。