光學測量儀器和光學設備測試系統

超高速光通信和高密度波分復用光通信（Dense-WDM）的研究與開發取得了重大進展，這些技術正越來越多地應用于工業領域。

在研究和開發領域，振幅特性、色度色散特性和群分復用特性是最重要的、

在研發領域，需要以較高的光頻分辨率測量光學設備或光學子系統的振幅特性、色度色散特性和群延遲特性。

需要該功能的設備包括 AWG、光纖光柵濾波器、色散補償器等。

特別是，由于色散特性會阻礙光通信比特率的提高，因此必須降低或管理色散值。

Q7750 optocope（光網絡分析儀）是一種用于測量光傳輸特性的革命性設備，

可在光載波頻率范圍內高速、高分辨率地測量光設備入射光和反射光的振幅/色散/群延遲特性。

此外，還能輕松測量各種色度色散特性，包括色散位移光纖或非零色散光纖的零色散特性和色散斜率特性。

采用相移法進行測量，可實現高光頻分辨率和寬動態范圍。

可批量測量光載波頻率范圍內的光傳輸特性 Q7750 配備了可變波長光源，

可通過掃描一系列波長（光頻率）同時測量光載波頻率范圍內的傳輸和反射特性（S21 和 S11 作為 S 參數）。

測量參數如下表所示。這些參數可在一次掃描中同時測量。

高光學頻率分辨率

光頻分辨率：高達 50 MHz（根據波長轉換為 0.4 pm）

Q7750 的最大光頻分辨率為 50 MHz。這就實現了超高分辨率光載波頻率領域的測量，而這在以前是不可能實現的。

可以輕松測量用于 DenseWDM 或 Ultra-Dense-WDM 的光學設備的振幅和色度色散特性（通道步長：100 GHz、50 GHz、25 GHz 等）。

可選波長跨度從 70 nm（最大）到約 0.1 nm（最小）。

高速測量

測量時間 約 6.7 毫秒（每個測量點） 約 4 秒（在指定跨度內） 一次掃描的間隔（測量時間）約為 4 秒。

這意味著 Q7750 可以在 4 秒鐘內完成測量，而之前的測量過程需要幾十秒。

如果測量時間過長，可能無法獲得準確的結果，因為被測設備的特性可能會受溫度等環境條件的影響而發生變化。

而 Q7750 可以在短時間內完成測量，確保高速、準確的測量，而不受被測設備溫度特性的影響。