純　度：光譜法分析測試雜質含量。

晶粒度：X—衍射（XRD）線寬化法平均晶粒的測定。

顆粒度：GB/T13221納米粉末粒度分布的測定X射線小角度散射法；GB/T13390粉末比表面的測定—氮吸附法（BET）：透射電鏡（TEM）觀察。

比表面積：GB/T13390粉末比表面的測定—氮吸附法（BET）。

參數指標：

主要用途：

①化工原料，ITO等半導體電子工業材料，

②陶瓷釉料的遮光劑、乳濁劑、著色劑，氣敏元件材料，

③導電陶瓷及電極材料，抗菌材料，低輻射玻璃，抗靜電材料，有機合成催化劑，錫鹽，織物媒染劑和增重劑，鋼和玻璃的磨光劑等。

④銀錫觸頭材料。銀氧化錫觸頭材料是近年發展迅速的新型環保電觸頭材料,是替代傳統銀氧化鎘觸頭的理想材料；

⑤塑料和建筑行業的抗靜電添加劑；

⑥用于平板和CRT(陰極射線管)顯示的透明導電材料；

⑦電工及電子元件；

⑧用于熔煉特種玻璃的氧化錫電極；

⑨用于光催化抗菌材料等。